半導(dǎo)體IC-AOI全自動檢測設(shè)備
Product introduction
適用于：半導(dǎo)體IC外觀檢測
檢測精度：0.05mm
特點：
可檢測產(chǎn)品6個不同面
可檢測IC不良多達30種（可依客戶需求開發(fā)）
可兼容IC大小從8mm到40mm
高速轉(zhuǎn)塔快速分料
料管重力式上下料
UPH： 18000
檢測準(zhǔn)確率：> 99%
檢測項目：
塑料體類缺陷（毛邊、殘膠、崩裂、刮傷）
引腳類缺陷（裸銅、毛刺、彎曲、變形、斷角、長短腳、偏移…）
散熱片缺陷（鍍層玷污、溢膠、毛邊、刮傷）
印記缺陷